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PicoFemto掃描電鏡SEM原位液體-電化學(xué)測量系統(tǒng), 掃描電鏡原位液體-電化學(xué)測量系統(tǒng)采用全新的O圈輔助密封設(shè)計(jì)，攻克了以往原位液體解決方案裝樣困難的問題...

PicoFemto掃描電鏡SEM原位光電力一體化系統(tǒng)，原位掃描電鏡光電力一體化系統(tǒng)集成了掃描探針控制單元，可在三維空間內(nèi)對電學(xué)探針與光纖探針進(jìn)行亞納米級別精度的...

PicoFemto掃描電鏡SEM原位高溫拉伸臺， 掃描電鏡原位高溫拉伸臺集成了力學(xué)拉伸模塊以及高溫環(huán)境模塊，可以實(shí)現(xiàn)在掃描電鏡中對樣品原位加熱的同時(shí)進(jìn)行拉伸實(shí)驗(yàn)...

掃描電鏡原位氣氛環(huán)境測量系統(tǒng)將MEMS氣氛環(huán)境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環(huán)境并且可以對實(shí)驗(yàn)樣品原位加熱。掃描電鏡SEM原位...

PicoFemto ZEM15臺式掃描電子顯微鏡，ZEM15掃描速度快，信號采集帶寬10M，可以在視頻模式下流暢實(shí)時(shí)的顯示樣品。只需鼠標(biāo)就可完成所有操作，不需對...

PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿,透射電鏡原位拉伸樣品桿，透射電鏡原位拉伸樣品桿，可在室溫條件下對材料施加拉力，結(jié)合透射電鏡原位觀察材料結(jié)構(gòu)的變化。

PicoFemto冷凍樣品桿，TEM冷凍樣品桿可以使被觀測樣品處于液氮低溫下，減弱了電子束輻照對樣品的損傷，同時(shí)也能研究材料的低溫結(jié)構(gòu)。

PicoFemto透射電鏡真空轉(zhuǎn)移樣品桿，透射電鏡真空轉(zhuǎn)移樣品桿采用可伸縮的樣品桿端頭設(shè)計(jì)，從而實(shí)現(xiàn)將樣品從真空室或手套箱的真空環(huán)境下轉(zhuǎn)移到透射電鏡內(nèi)的目的，避...

PicoFemto透射電鏡多孔樣品桿，透射電鏡多孔樣品桿使研究者們可以將多三個(gè)樣品同時(shí)置入透射電鏡中，*提高了透射電鏡的使用效率。該產(chǎn)品還可以選擇雙傾版本，每個(gè)...

PicoFemto透射電鏡360°水平旋轉(zhuǎn)樣品桿，透射電鏡360°水平旋轉(zhuǎn)樣品桿同時(shí)具備β角傾轉(zhuǎn)以及360°水平旋轉(zhuǎn)的功能，可以在...

PicoFemto透射電鏡樣品桿預(yù)抽存儲系統(tǒng)（T-staion）由內(nèi)置進(jìn)口分子泵組、樣品桿預(yù)抽室及觸摸顯示屏組成。適用于各品牌透射電鏡樣品桿，保證樣品桿*處于高...

透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量系統(tǒng)，采用全新的O圈輔助密封設(shè)計(jì)，更易封裝液體。實(shí)驗(yàn)中，樣品被密封在超薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內(nèi)，池內(nèi)可以承載一個(gè)大氣壓。芯片...

透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)-樣品桿，透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能...

透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測量系統(tǒng)，透射電子顯微鏡可以在較高時(shí)間分辨率下得到原子級空間分辨率。透射電子顯微鏡原位加熱/電學(xué)測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品...

透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實(shí)現(xiàn)高1 Bar & 800 ℃的觀測條件。該系統(tǒng)使研究者可以在原子尺度上實(shí)時(shí)觀測催...

原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng),該產(chǎn)品是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場環(huán)境（包括力、熱、光、...

透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng)?，同時(shí)集成了力學(xué)測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000 ℃加熱的同時(shí)進(jìn)行定量的力學(xué)測量。MEMS芯片模塊上可以選擇加熱芯...

透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)測量的同時(shí)，動(dòng)態(tài)、...

透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)測量的同時(shí)，動(dòng)...

透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)測量的同時(shí)，動(dòng)...